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為力學實驗室儀器而生
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為力學實驗室儀器而生
三維云紋干涉儀是由云紋干涉光路和泰曼/格林干涉光路組合而成；將高靈敏度正交型光柵復制在試件的表面，并置于光路系統(tǒng)中，經(jīng)調試后可分別獲得兩個面內位移場（U和V）和離面位移場（W）；激光是由單模光纖及耦合器分解和傳輸?shù)焦饴废到y(tǒng)中的；光路中置有PZT壓電晶體，通過驅動電源控制和驅動壓電晶體和反射鏡來實現(xiàn)相移技術，相移技術可以使測量靈敏度提高一個量級，儀器還附有加載系統(tǒng)及調節(jié)座；配以高溫爐可進行熱變形測量。
主要技術指標：
1、位移靈敏度： 面內u & v 場： 417nm (1200 線/mm)，離面 w場： 266nm
2、相移靈敏度: ∽20nm/V
3、光場尺寸： 35×35mm
4、測試范圍： ≤20×20mm
6、測量應變范圍：10~4000微應變
7、激光器： 單縱膜，20 mw， λ=532nm
8、圖像采集： CMOS攝像頭，分辨率 1280 x 1024，USB接口
9、加載系統(tǒng)： 拉伸、壓縮、彎曲三種加載方式
主要配置：
1、 主機
2、 20mW半導體激光器：1個
3、 USB攝像頭(內置)：1只
4、 相移器：1個
5、 光纖：3根
6、 光纖耦合器：1套
7、 1200mm×800mm自動平衡隔振平臺：1套
8、 品牌液晶臺式電腦：1套
9、 拉伸、壓縮、彎曲三種加載方式：1套
10、軟件：1套
應用范圍：
云紋干涉法是一種非接觸測量面內位移和應變場的方法，具有較為廣泛的應用范圍。
該技術可用于測量復合材料的殘余應力;測量微電子封裝組件熱疲勞，熱濕耦合，熱載荷引起的變形;可用于非接觸測量航空材料在高溫狀態(tài)下的力學性能;還可以應用于材料構件內部的缺陷，裂紋的無損檢測。應用范圍非常廣泛。
